LDJD系列介電常數測試儀產品：LDJD系列是利用高(gao)頻(pin)Q表法在較高(gao)的頻(pin)率條(tiao)件下(xia)，測量(liang)高(gao)頻(pin)電(dian)(dian)感(gan)或諧振(zhen)回(hui)路的Q值、電(dian)(dian)感(gan)的電(dian)(dian)感(gan)量(liang)和分布(bu)電(dian)(dian)容值、電(dian)(dian)工絕緣(yuan)材(cai)料的高(gao)頻(pin)介質損耗、高(gao)頻(pin)回(hui)路有效并聯及(ji)串聯電(dian)(dian)阻以及(ji)傳輸線的特性(xing)阻抗等。

設備配置：

LDJD介電常數測試儀的適用范圍：

GB/T 1409-2006 《測量電氣絕(jue)緣材料在(zai)工(gong)頻、音頻、高頻(包括米波波長(chang)在(zai)內)下電容率和介質損耗因(yin)數的推薦方(fang)法》（等效IEC 60250：1969）；

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電(dian)常數和(he)介質損耗角正切值的(de)測定方法》；

ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》；

適用(yong)于測(ce)量(liang)液體、易熔(rong)材料(liao)以及固體材料(liao)。測(ce)試結果(guo)與某些物理條件有關，例如頻(pin)率、溫度(du)、濕(shi)度(du)，在特殊情況下也與電場強度(du)有關；

什么是介電常數？

介(jie)電(dian)常(chang)數εr電(dian)容(rong)(rong)器的(de)(de)電(dian)極之間(jian)及電(dian)極周(zhou)圍的(de)(de)空(kong)間(jian)全(quan)部充(chong)以(yi)絕緣材料(liao)時，其電(dian)容(rong)(rong)Cx與同樣電(dian)極構形的(de)(de)真空(kong)電(dian)容(rong)(rong)C0之比:

（1）式中：

εr——相對電容(rong)率；

Cx——充有絕緣(yuan)材(cai)料時電(dian)容器的(de)電(dian)極電(dian)容；

C0——真空(kong)中電(dian)容(rong)器的電(dian)極電(dian)容(rong)。

在(zai)標準大氣壓下，不含二氧化(hua)碳的干燥空氣的相對(dui)電(dian)容(rong)(rong)率εr等于(yu)1.00053。因此，用這種電(dian)極(ji)構形在(zai)空氣中的電(dian)容(rong)(rong)Ca來(lai)代替C0測量相對(dui)電(dian)容(rong)(rong)率εr時，也有足夠的精確度。

在一個測量系統中，絕(jue)緣材料(liao)的電(dian)容率(lv)是(shi)在該系統中絕(jue)緣材料(liao)的相對電(dian)容率(lv)εr與真(zhen)空電(dian)氣常數ε0的乘積。

在SI制中，絕對(dui)電容(rong)率(lv)用(yong)法/米(F/m )表示(shi)。而且,在SI單位中，電氣常(chang)數ε0為(wei)：

（2）用皮(pi)法和厘米來計算電容，真空電氣常(chang)數為(wei):

（3）什么是(shi)介質損耗(hao)。

介質(zhi)損(sun)耗(hao)角 δ由絕緣(yuan)材料作為介質(zhi)的(de)電(dian)(dian)容器上所(suo)施加的(de)電(dian)(dian)壓與由此而產生的(de)電(dian)(dian)流之間的(de)相位(wei)差的(de)余角。

介質損耗因數  tanδ：損耗角δ的正切。