LDJD-C型160MHz介電常數儀(yi)——航天偉創

一、主要參數

1. 信號源頻率覆(fu)蓋范圍(wei)100kHz～160MHz

2. 信號源頻(pin)率(lv)精(jing)度3×10^-5 ±1個字, 6位有(you)效數(shu)字；信號頻率覆蓋比11000：1；采樣精(jing)度(du)12BIT（高(gao)精(jing)度A/D采樣(yang)）；

3．Q值測(ce)量(liang)范圍：1～1000自(zi)動/手動量程；Q值(zhi)分辨率(lv)0.1，4位有效數字；Q值測量工作誤(wu)差(cha)＜5%；

4．Q值(zhi)量程分檔：30、100、300、1000、自動換(huan)檔或手動換(huan)檔；

5．電感測量范圍：1nH～140mH，分辨率0.1nH，自(zi)身(shen)殘余電感和測(ce)試引線電感的自(zi)動扣除功(gong)能；

6．電容(rong)直接測量范(fan)圍：1pF～25nF，分辨率0.1pF，準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%；                                  ;    

7．主電容調(diao)節范圍： 17～240pF（一體鍍銀成(cheng)型(xing)，精度高）；帶步進馬達，電容自動搜索；                                        

8． 材料測試厚度：0.1mm~10mm；

9． 合格(ge)指示預(yu)置功能范圍：5～1000；

10．LCD顯示參數F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；

11．環(huan)境(jing)溫度：0℃～+40℃；

12．消(xiao)耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13.（數顯）介電常數εr和(he)介質損耗(hao)因數tanδ測(ce)試裝置：

數顯式微桿(gan)，平板(ban)電(dian)容(rong)器(qi)：

極(ji)片(pian)尺寸： 38mm

極片間(jian)距可調范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾(jia)具(ju)損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率：0.001mm

測(ce)(ce)試(shi)極片：材料測(ce)(ce)量直(zhi)徑(jing)Φ38mm厚(hou)度(du)可調 ≥ 15mm

*液體杯：測量(liang)極片直徑 Φ38mm； 液(ye)體杯內徑Φ48mm 、深(shen)7mm

14. 電感(gan)組LKI-1：

分別由(you)0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。

二 介(jie)質損(sun)耗測試方法與步驟

1.   主機C₀值(zhi)的(de)計(ji)算方式:

a)   選一個適當的諧振電感接到“Lx”的兩端；

b)   將調諧電容器調到200P左右，令這個電容是C₄，

c)   按下儀器面(mian)板(ban)的頻率搜索鍵(jian)，使測試回路諧振，諧振時(shi)Q的讀數為Q₄(注(zhu)：若頻率(lv)搜索(suo)未能找到&高Q值諧振(zhen)點，可(ke)以通過頻率(lv)旋鈕(niu)來微調(diao)頻率(lv)來達(da)到Q值大值的諧振(zhen)點；

d)   將測試夾(jia)具(ju)(ju)接(jie)在“Cx”兩端，放入材料(liao)，上下極片夾(jia)緊材料(liao)后(hou)記(ji)住(zhu)夾(jia)具(ju)(ju)顯示值(zhi)，然后(hou)拿(na)出材料(liao)，調回到夾(jia)具(ju)(ju)的顯示數值(zhi)，調節主調電容(rong)，使測試電路(lu)重新諧振，此時可變電容(rong)器值(zhi)為C₃，Q值讀數為(wei)Q₃。(注：C₃數值肯定比C₄要(yao)小(xiao))

機構(gou)電容(rong)的有效電容(rong)為：C_z= C₄－C₃

分布電容為(wei)機構電容C_Z和電(dian)感分布電(dian)容C_L（參考(kao)電感的(de)(de)技術說(shuo)明）的(de)(de)和

介質損耗(hao)系數/介質損耗(hao)正切值為(wei)

2. 把S916測試(shi)夾具裝置上的插頭插入到主機測試(shi)回路的“電容(rong)”兩個端(duan)子(zi)上。

3. 在主機電感端子上插上和測(ce)試頻率相適應的高Q值(zhi)電感線圈（本公司 主機配套使(shi)用(yong)的LKI-1電感組能滿足要求），如(ru)：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。

4. 被測(ce)(ce)樣(yang)品(pin)要求為圓(yuan)形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小(xiao)因樣(yang)品(pin)邊緣泄(xie)漏和邊緣電場引起的誤(wu)差的有效辦法。樣(yang)品(pin)厚度(du)可在1--5mm之間，樣(yang)品(pin)太薄或太厚就(jiu)會使測(ce)(ce)試(shi)精度(du)下降，樣(yang)品(pin)要盡可能平直。

5. 調節S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。再松開兩片極片，把被測樣品夾入兩片極片之間，調節S916測試夾具的測微桿，到的平板電容極片夾住樣品止（注意調節時要用S916測試夾具的，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D₂，改變主機上的主調電容容量，使主機處于諧振點（Q值(zhi)(zhi)大值(zhi)(zhi)，為了(le)得到準確(que)的Q值(zhi)(zhi)請耐心來回(hui)調節主調電容，當Q為大值(zhi)(zhi)時候可以稍等1分鐘，等Q值(zhi)(zhi)穩定(ding)），然后按一次 主機上的小數點（tgδ）鍵(請用(yong)絕緣材料來(lai)按，不要用(yong)手來(lai)按），在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C₀= x x x(C₀=C_z+C_L電感分布電容)需要手動輸入，記住(zhu)厚度D₂的值，此時顯示數值為C₂和Q₂。

6. 取出S916測試夾具中的樣品，（保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變）這時主機又失去諧振（Q值變小），再改變主機上的主調電容容量，使主機重新處于諧振點（Q值大值，為了(le)得到準(zhun)確的Q值請耐(nai)心來回調(diao)節主調(diao)電容，當Q為大值時候可以稍(shao)等1分鐘，等Q值穩定(ding)））上。

7. 注意：多次測試同一個材料時，要求保持每次材料厚度的讀數一致(zhi)。

8. 第二次按下 主機上的小數點（tgδ）鍵，顯示屏上原C₂和Q₂顯示變化為C₁和Q₁，同時顯示(shi)介(jie)質損耗系數tn =．x x x x x ，即完成測試(shi)。

9. 出(chu)(chu)錯提示(shi)，當出(chu)(chu)現tn =  NO 顯示(shi)時，說明(ming)測(ce)試(shi)時出(chu)(chu)現了差錯，發生了Q₁ ≤ Q₂和C₁ ≤ C₂的錯誤情(qing)況。

附錄 一

顯示數據(ju)介紹：

附錄 二(er)

LKI-1電感組

LKI-1型(xing)電(dian)感(gan)組共包括不(bu)同電(dian)感(gan)量的(de)(de)電(dian)感(gan)9個，凡儀器在(zai)進行測(ce)試線圈的(de)(de)分(fen)布電(dian)容量，電(dian)容器的(de)(de)電(dian)容量，高(gao)頻介質損耗，高(gao)頻電(dian)阻和(he)傳輸(shu)線特性(xing)阻抗等高(gao)頻電(dian)路和(he)元件(jian)的(de)(de)電(dian)性(xing)能時，必須用電(dian)感(gan)組作輔(fu)助(zhu)工具。

本電(dian)感組有較高(gao)Q值(zhi)，能使儀器測量時得到尖銳諧振點(dian)，因而增加其(qi)測量的準確(que)度，各電(dian)感的有關(guan)數據如下表：

附錄 三

粘(zhan)性(xing)材(cai)料以及超薄(bo)材(cai)料的(de)測試方法

一  如(ru)何測試帶粘性超(chao)薄絕(jue)緣材料的介電常(chang)數

1 用錫箔(bo)紙覆膠在材(cai)料的兩面，上下層錫箔(bo)紙不能接觸。錫箔(bo)紙厚度為(wei)DX;

2 超薄材(cai)料需要(yao)疊加：疊加方式如下

                       ;            250μ貼(tie)合6層(ceng)后測試；

200μ貼合8層后測試；

175μ貼(tie)合9層(ceng)后(hou)測試(shi)；

125μ貼合12層(ceng)后(hou)測試(shi)；

100μ貼合15層(ceng)后測試(shi)；

75μ貼合20層后測試；

50μ貼合30層后測(ce)試(shi)。

3 計算(suan)公式

  Σ＝(D2-2*DX)/D4

4 介(jie)質(zhi)損耗系數測試同(tong)理

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